JIS C7210-1977 有可靠性保证的半导体分立器件通则
作者:标准资料网
时间:2024-05-17 23:00:08
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【英文标准名称】:Generalrulesforreliabilityassureddiscretesemiconductordevices
【原文标准名称】:有可靠性保证的半导体分立器件通则
【标准号】:JISC7210-1977
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;半导体器件;可靠度;质量保证;质量控制
【英文主题词】:semiconductordevices;semiconductors;reliability;qualitycontrol;qualityassurance
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:有可靠性保证的半导体分立器件通则
【标准号】:JISC7210-1977
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;半导体器件;可靠度;质量保证;质量控制
【英文主题词】:semiconductordevices;semiconductors;reliability;qualitycontrol;qualityassurance
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P;A4
【正文语种】:日语
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