作者:标准资料网 时间:2024-05-12 22:17:44   浏览:9941   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices;integratedcircuits;part11;section1:internalvisualexaminationforsemiconductorintegratedcircuitsexcludinghybridcircuits
【原文标准名称】:半导体器件集成电路第11部分:第1节:半导体集成电路(不包括混合电路)内部目检
【标准号】:IEC60748-11-1-1992
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:1992-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47A
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;规范;集成电路;电气工程;外观检查(试验);电路工艺
【英文主题词】:Circuitengineering;Electricalengineering;Integratedcircuits;Semiconductordevices;Specification;Visualinspection(testing)
【摘要】:Purposeofthetestsistochecktheinternalmaterials,constructionandworkmanshipforcompliancewiththerequirementsoftheapplicablespecification.Thetestswillnormallybeusedpriortocappingorencapsulationona100%inspectionbasistod
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:71P.;A4
【正文语种】:英语